日置IM3523/IM3533/IM3533-01新版LCR測(cè)試儀正式上市

上海增駿強(qiáng)力推出日置新LCR測(cè)試儀，有關(guān)新款LCR測(cè)試儀的技術(shù)和LCR測(cè)試儀的價(jià)格請(qǐng)致電021-51087863咨詢

新發(fā)售LCR測(cè)試儀IM3523，IM3533，IM3533-01是一款，1mHz(IM3523是40Hz)～200kHz的廣范圍 測(cè)量頻率，快2ms高速測(cè)量，通過接觸檢查功能提高測(cè)量可信度等，與以往產(chǎn)品相比更顯性能 高，功能強(qiáng)，性價(jià)比優(yōu)的**測(cè)試儀。

三款LCR測(cè)試儀在以往產(chǎn)品的基礎(chǔ)上又增加了新功能。IM3523在電子元器件生產(chǎn)方面高效、便捷，IM3533在IM3523的基礎(chǔ)上增加了變壓器測(cè)量和線圈感應(yīng)功能。后，IM3533-01包含了以上兩款所有功能并在性能上有所突破，增加了更多應(yīng)用于研究開發(fā)領(lǐng)域的功能。

日置新版LCR測(cè)試儀IM3523/IM3533/IM3533-01的特點(diǎn)

• 大范圍測(cè)量頻率、電壓和電流，適用于廣泛領(lǐng)域。
  三款測(cè)試儀與以往產(chǎn)品相比能更廣泛地測(cè)量頻率和信號(hào)范圍。這使得儀器在操作上帶來便捷的同時(shí)也能讓測(cè)量應(yīng)用領(lǐng)域變得更廣。

  型號(hào)	IM3523	IM3533	IM3533-01	3522-50 (以往型號(hào))
  測(cè)量頻率	40 Hz 到 200 kHz	1 mHz 到 200 kHz		1 mHz 到 100 kHz
  測(cè)量電壓	5 mV 到 5 V	普通：5mV到5V 低阻抗高精度模式：5mV到2.5V		10 mV 到 5 V
  測(cè)量電流	10 mA 到 50 mA	普通：10mA到50mA 低阻抗高精度模式：10mA到100mA		10 mA 到 100 mA

  
   

• 改進(jìn)后的基本精度±0.05%
  三款測(cè)試儀的基本精度是[Z（阻抗值）×測(cè)量值]×±0.05％。這點(diǎn)優(yōu)于以往產(chǎn)品（讀數(shù)精度的±0.08%）的性能改進(jìn)保證了更**的測(cè)量。
  *Z（阻抗值）：AC電路中的電阻值。
  
   

• 測(cè)量效率提高，測(cè)量時(shí)間是以往時(shí)間的一半不到
  以往型號(hào)需要的測(cè)量時(shí)間為5 ms，而IM3523完成測(cè)量只需要2 ms，大幅提升了測(cè)量效率。在產(chǎn)線裝備上使用更加有效率，更短的測(cè)量時(shí)間可以降低成本。
   

• 減少未知故障的接觸檢查功能
  儀器的接觸檢查功能在測(cè)量采樣時(shí)可檢測(cè)到故障線路和接觸**，降低了未知故障的風(fēng)險(xiǎn)，保證更可靠的測(cè)量。

日置新版LCR測(cè)試儀IM3523/IM3533/IM3533-01的區(qū)別

IM3523

(1) 小巧，輕便的設(shè)計(jì)能更方便地與產(chǎn)線設(shè)備配合使用。IM3523在安裝體積上比以往產(chǎn)品小約40%，重量輕約20%，這樣有足夠的空間將儀器安裝在產(chǎn)線上或自動(dòng)測(cè)試設(shè)備內(nèi)部。

IM3533

IM3533與IM3523相比，增加了以下功能：
(1) IM3533可提供變壓器，線圈的測(cè)量，DCR進(jìn)行溫度補(bǔ)償和內(nèi)部DC偏置測(cè)量對(duì)測(cè)量鉭和其他極化電容也有幫助。IM3533能測(cè)量某個(gè)特定元件，測(cè)量范圍更廣。

(2) 觸摸屏提高操作性
The IM3533的觸摸屏提高了操作性能。

IM3533-01

IM3533-01在IM3523和IM3533的基礎(chǔ)上又增加了以下功能，特別適用于研究開發(fā)領(lǐng)域。

(1) 掃頻功能，是研發(fā)部門的理想選擇。
IM3533-01的掃頻功能可以讓用戶在特定范圍內(nèi)觀察每個(gè)頻率點(diǎn)測(cè)量值的變化，對(duì)于研發(fā)人員在評(píng)估電子元器件的特征時(shí)是個(gè)有效的工具。測(cè)量結(jié)果可通過USB存儲(chǔ)器或其它接口保存在電腦或另外的裝置上，以便對(duì)每個(gè)頻率點(diǎn)的數(shù)據(jù)進(jìn)行分析。